NI PXIE-5186 PXIe数字化仪

NI PXIe-5186 是一款由美国国家仪器（National Instruments，简称NI）公司生产的高性能PXIe数字化仪。它广泛应用于电子测试测量领域，尤其适用于高速信号采集和分析。

产品描述

• PXIe模块: PXIe-5186是一款插入式模块，专为PXI Express机箱设计，可与其他PXIe模块协同工作，构建灵活、可定制的测试系统。
• 高速采样: 该模块具有极高的采样率，能够捕捉到快速变化的信号，适用于高频信号分析。
• 高分辨率: 高分辨率的ADC（模数转换器）确保了采集数据的精度。
• 多功能: 支持多种触发方式、时钟源和数据传输模式，满足各种测试需求。

主要参数及规格（具体参数请参考产品说明书）

• 类型: PXIe数字化仪

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• 采样率: 最高可达12.5 GS/s
• 垂直分辨率: 8位
• 带宽: 5 GHz
• 输入通道: 2个
• 输入阻抗: 50 Ω或1 MΩ可选
• 触发方式: 多种触发方式，包括边缘触发、软件触发等
• 时钟源: 内部时钟或外部时钟
• 数据传输: 高速数据传输，支持多种数据传输模式

主要功能

• 信号采集: 高速、高精度地采集模拟信号。
• 信号分析: 对采集到的信号进行频谱分析、时域分析等。
• 触发与同步: 精确控制信号采集的开始和结束，实现多个模块的同步。
• 数据存储: 将采集到的数据存储到计算机或磁盘中。

应用领域

• 电子产品测试: 测试电子产品的性能和可靠性。
• 通信系统测试: 测试通信设备的信号质量。
• 航空航天测试: 测试航空航天设备的电子系统